【时间地点】 | |||
【培训讲师】 | 费庆宇 | ||
【参加对象】 | 系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、研究员,质量可靠性管理和失效分析工程师等 | ||
【参加费用】 | ¥2000元/人 RMB2000元/2天/人(包括培训、培训教材、两天午餐、以及上下午茶点等) | ||
【会务组织】 | 森涛培训网(www.stpxw.com).广州三策企业管理咨询有限公司 | ||
【咨询电话】 | 020-34071250;020-34071978(提前报名可享受更多优惠) | ||
【联 系 人】 | 庞先生,邓小姐;13378458028、18924110388(均可加微信) | ||
【在线 QQ 】 | 568499978 | 课纲下载 | |
【温馨提示】 | 本课程可引进到企业内部培训,欢迎来电预约! |
第一部分:电子元器件失效分析技术
1.失效分析的基本概念和一般程序
2.失效分析的电测试
3.无损失效分析
4.模拟失效分析
5.制样技术
6.形貌像技术
7.扫描电镜电压衬度像
8.热点检测技术
9.聚焦离子束技术
10. 微区化学成分分析技术
第二部分:分立半导体器件和集成电路的失效机理和案例
1.塑料封装失效
2.引线键合失效
3.水汽和离子沾污
4.介质失效 5.过电应力损伤
6.闩锁效应
7.静电放电损伤
8.金属电迁移
9.金属电化学腐蚀
10.金属-半导体接触退化
11.芯片粘结失效
第三部分:电子元件的失效机理和案例
1. 电阻器的失效机理和案例
2. 电容器的失效机理和案例
3. 继电器的失效机理和案例
4.连接器的失效机理和案例
5.印刷电路板和印刷电路板组件
第四部分:微波半导体器件失效机理和案例
1.微波器件的主要失效模式及失效机理
2.微波器件典型案例综合分析
3.微波器件的失效控制措施
4.微波器件失效分析典型案例
第五部分:混合集成电路失效机理和案例
1.混合集成电路的主要失效模式及失效机理
2.混合集成电路典型案例综合分析
3.混合集成电路的失效控制措施
4.混合集成电路失效分析典型案例
第六部分 其它器件的失效机理和案例
1.其它器件主要失效模式及失效机理
2.其它器件典型案例综合分析
3.其它器件失效分析典型案例
专 家 介 绍:费庆宇(高级工程师)
1982年起在中国电子产品可靠性与环境实验研究所(现名:信息产业部电子五所)工作,现任高级工程师。长期从事半导体器件(包括集成电路和GaAs微波器件等)的失效机理和失效分析技术研究。分别于1989年、1992-1993年、2001年由联合国、国家教委和中国国家留学基金委员会资助赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。曾多次应邀外出讲学,曾多次主持重大课题研究,他主持的《VLSI失效分析技术》课题荣获2003年度国防科技二等奖。